El producto
Características especiales:
- Rango de medición de 750 a 3000 °C
- PA 44 AF 4/5: calibración especial para la producción de cristales
- PA 44 AF 7: calibración especial para la producción de carburo de silicio
- Evaluación híbrida de señales para una alta resolución metrológica
- Alta estabilidad a largo plazo gracias a un autocalentamiento mínimo
- Óptica enfocable para un ajuste preciso de la distancia de medición
- Estándar: salida analógica e interfaz USB/RS 485
| Versión |
CellaCrystal PA 44 AF 4 /D |
|---|---|
| Rango de medición |
750 – 2400 °C |
| Distancia de enfoque |
0,4 m – ∞ |
| Forma del campo de visión |
redondo |
| Relación óptica |
150 : 1 |
| Objetivo |
PZ 20.01 |
| Principio de medición |
de cociente |
| Dispositivo de mira |
Visor a través de la lente |