O produto
Características especiais:
- Gama de medição 750 a 3000 °C
- PA 44 AF 4/5: calibração especial para a produção de cristais
- PA 44 AF 7: calibração especial para a produção de carboneto de silício
- Avaliação de sinal híbrida para uma elevada resolução metrológica
- Elevada estabilidade a longo prazo devido a um auto-aquecimento mínimo
- Ótica focável para um ajuste preciso da distância de medição
- Standard: saída analógica e interface USB/RS 485
Modelo |
CellaCrystal PA 44 AF 4 /D |
---|---|
Faixa de medição 0 – 200 C: |
750 – 2400 °C |
Distância de foco |
0,4 m – ∞ |
Forma do campo de medição |
redondo |
Relação de distância |
150 : 1 |
Lente |
PZ 20.01 |
Princípio de medição |
de duas cores |
Aviso e limiar de desligamento do monitoramento de contaminação |
Viseira transparente |