Imagem descritiva do produto Pirómetro Óptico - CellaCrystal® PX 44 (850 – 3000 °C)

Pirómetro Óptico - CellaCrystal® PX 44 (850 – 3000 °C)

El CellaCrystal PX 44 ha sido desarrollado para la medición óptica de la temperatura en la producción de cristales de Si y SiC. El calibrado está especialmente adaptado al proceso de cultivo. Gracias a la evaluación híbrida de la señal con una alta resolución constante de < 0.1 K en todo el rango de medición y a la altísima estabilidad a largo plazo gracias a la tecnología de sensor de luz constante, el dispositivo cumple los elevados requisitos de precisión de medición necesarios.

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El producto

Características especiales:

Rango de medición de 750 a 3000 °C
PX 44 AF 4 calibración especial para la producción de cristales de silicio
PX 44 AF 7 calibración especial para la producción de carburo de silicio
Evaluación de señal híbrida para alta resolución metrológica
Alta duración Estabilidad gracias al mínimo autocalentamiento
Óptica enfocable para un ajuste preciso de la distancia de medición
Estándar: interfaz IO-Link y salida analógica

Versión	CellaCrystal PX 44 AF 4 /D
Rango de medición	750 – 2400 °C
Distancia de enfoque	0,4 m – ∞
Forma del campo de visión	redondo
Relación óptica	150 : 1
Objetivo	PZ 20.01
Principio de medición	de cociente
Dispositivo de mira	Visor a través de la lente