Imagem descritiva do produto Pirômetro Ótico - CellaCrystal® PX 44 (850 - 3000 °C)

Pirômetro Ótico - CellaCrystal® PX 44 (850 - 3000 °C)

O CellaCrystal PX 44 foi desenvolvido para a medição ótica da temperatura na produção de cristais de Si e SiC. A calibração é especialmente adaptada ao processo de crescimento. Graças à avaliação do sinal híbrido com uma alta resolução constante de < 0.1 K em toda a faixa de medição e a estabilidade muito alta a longo prazo graças à tecnologia de sensor de luz constante, o dispositivo atende aos altos requisitos para a precisão de medição necessária.

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O produto

Características especiais:

Faixa de medição 750 a 3000 °C
Calibração especial PX 44 AF 4 para a produção de cristais de silício
Calibração especial PX 44 AF 7 para a produção de carboneto de silício
Avaliação de sinal híbrido para alta resolução metrológica
Alta longo prazo estabilidade devido ao autoaquecimento mínimo
Óptica focalizável para ajuste preciso da distância de medição
Padrão: interface IO-Link e saída analógica

Modelo	CellaCrystal PX 44 AF 4 /D
Faixa de medição 0 – 200 C:	750 – 2400 °C
Distância de foco	0,4 m – ∞
Forma do campo de medição	redondo
Relação de distância	150 : 1
Lente	PZ 20.01
Princípio de medição	de duas cores
Aviso e limiar de desligamento do monitoramento de contaminação	Viseira transparente