El producto
Características especiales:
- Rango de medición de 900 a 3200 °C
- PX 45 AF 1: especialmente para la producción de grafito, grafeno y cristales
- Evaluación de señal híbrida para una alta resolución metrológica
- Alta estabilidad a largo plazo gracias al mínimo autocalentamiento
- Enfocable óptica para un ajuste exacto de la distancia de medición – Estándar: salida analógica e interfaz IO-Link
Versión |
CellaCrystal PX 45 AF 1 /D |
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Rango de medición |
900 – 3200 °C |
Distancia de enfoque |
0,4 m – ∞ |
Forma del campo de visión |
redondo |
Relación óptica |
210 : 1 |
Objetivo |
PZ 20.01 |
Principio de medición |
de cociente |
Dispositivo de mira |
Visor a través de la lente |