El producto
Características especiales:
- Rango de medición de 450 a 1800 °C
- Óptica intercambiable enfocable para el ajuste exacto de la distancia de medición
- Óptica de precisión antirreflectante de banda ancha
- Gama espectral de onda corta y banda estrecha
- Especialmente adecuado para mediciones precisas en metales y obleas de silicio
- Pantalla LED
- legible a larga distancia
- Salida de corriente de prueba para la función de diagnóstico -Salida analógica y USB/RS485 de serie
| Versión |
CellaWafer PA 38 AF 10 /D |
|---|---|
| Rango de medición |
450 – 1800 °C |
| Distancia de enfoque |
0,3 m – ∞ |
| Forma del campo de visión |
redondo |
| Relación óptica |
40 : 1 |
| Objetivo |
PA 20.08 |
| Principio de medición |
espectral |
| Dispositivo de mira |
Visor a través de la lente |
